产品名称：PCT3000半导体热特性试验系统
产品介绍：
PCT3000半导体热特性试验系统能够准确描述和量化所有半导体器件在热量积累过程中的老化和降级，对于目前被封装可靠性问题所困扰的开发人员而言，它对开发高性价比封装解决方案有很大帮助。对于研究所有类型功率模块中散热路径的退化是非常有用的工具。
产品特点：
产品详情
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服务创造价值、存在造就未来
PCT3000半导体热特性试验系统能够准确描述和量化所有半导体器件在热量积累过程中的老化和降级，对于目前被封装可靠性问题所困扰的开发人员而言，它对开发高性价比封装解决方案有很大帮助。对于研究所有类型功率模块中散热路径的退化是非常有用的工具。
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